| Property |
Value |
| dbo:abstract
|
- La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments. L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : 1.
* par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry) ; 2.
* par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry). (fr)
- La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments. L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : 1.
* par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry) ; 2.
* par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry). (fr)
|
| dbo:thumbnail
| |
| dbo:wikiPageExternalLink
| |
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 90434 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| prop-fr:année
|
- 1952 (xsd:integer)
- 1976 (xsd:integer)
- 1978 (xsd:integer)
- 1981 (xsd:integer)
- 1992 (xsd:integer)
- 1997 (xsd:integer)
- 1999 (xsd:integer)
- 2002 (xsd:integer)
- 2006 (xsd:integer)
|
| prop-fr:auteur
|
- J.-P. Eberhart (fr)
- Jacques Despujols (fr)
- J.-P. Eberhart (fr)
- Jacques Despujols (fr)
|
| prop-fr:commons
|
- X-ray fluorescence (fr)
- X-ray fluorescence (fr)
|
| prop-fr:id
|
- Beckoff et coll.2006 (fr)
- Goldstein et coll.1992 (fr)
- Beckoff et coll.2006 (fr)
- Goldstein et coll.1992 (fr)
|
| prop-fr:isbn
|
- 0 (xsd:integer)
- 3 (xsd:integer)
- 978 (xsd:integer)
- 0978-02-10 (xsd:date)
|
| prop-fr:langue
| |
| prop-fr:libellé
|
- Beckoff et coll. 2006 (fr)
- Goldstein et coll. 1992 (fr)
- Heinrich 1981 (fr)
- Ruste 1978 (fr)
- Beckoff et coll. 2006 (fr)
- Goldstein et coll. 1992 (fr)
- Heinrich 1981 (fr)
- Ruste 1978 (fr)
|
| prop-fr:lieu
|
- New York (fr)
- Paris (fr)
- New York/London (fr)
- New York (fr)
- Paris (fr)
- New York/London (fr)
|
| prop-fr:mois
|
- février (fr)
- février (fr)
|
| prop-fr:nom
|
- Michael (fr)
- Heinrich (fr)
- Jenkins (fr)
- Lyman (fr)
- Joy (fr)
- Wolff (fr)
- Sawyer (fr)
- Ravel (fr)
- Elam (fr)
- Newbury (fr)
- Sieber (fr)
- Golstein (fr)
- Langhoff (fr)
- Beckhoff (fr)
- Echlin (fr)
- Kanngießer (fr)
- Lifshin (fr)
- Ruste (fr)
- Wedell (fr)
- Michael (fr)
- Heinrich (fr)
- Jenkins (fr)
- Lyman (fr)
- Joy (fr)
- Wolff (fr)
- Sawyer (fr)
- Ravel (fr)
- Elam (fr)
- Newbury (fr)
- Sieber (fr)
- Golstein (fr)
- Langhoff (fr)
- Beckhoff (fr)
- Echlin (fr)
- Kanngießer (fr)
- Lifshin (fr)
- Ruste (fr)
- Wedell (fr)
|
| prop-fr:pages
|
- 31 (xsd:integer)
- 121 (xsd:integer)
|
| prop-fr:pagesTotales
|
- 614 (xsd:integer)
- 820 (xsd:integer)
|
| prop-fr:prénom
|
- B. (fr)
- C.E. (fr)
- E. (fr)
- H. (fr)
- J. (fr)
- L. (fr)
- P. (fr)
- R. (fr)
- N. (fr)
- Ron (fr)
- J.R. (fr)
- J. R. (fr)
- Jacky (fr)
- W. T. (fr)
- B. D. (fr)
- D.E. (fr)
- D.C. (fr)
- Kurt F. J. (fr)
- B. (fr)
- C.E. (fr)
- E. (fr)
- H. (fr)
- J. (fr)
- L. (fr)
- P. (fr)
- R. (fr)
- N. (fr)
- Ron (fr)
- J.R. (fr)
- J. R. (fr)
- Jacky (fr)
- W. T. (fr)
- B. D. (fr)
- D.E. (fr)
- D.C. (fr)
- Kurt F. J. (fr)
|
| prop-fr:périodique
|
- Radiation Physics and Chemistry (fr)
- Le Journal de physique et le radium. Physique appliquée (fr)
- Radiation Physics and Chemistry (fr)
- Le Journal de physique et le radium. Physique appliquée (fr)
|
| prop-fr:sousTitre
|
- a text for biologists, materials scientists, and geologists (fr)
- a text for biologists, materials scientists, and geologists (fr)
|
| prop-fr:titre
|
- Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides (fr)
- A new atomic database for X-ray spectroscopic calculations (fr)
- Fluorescence spectrometry 2nd ed. (fr)
- Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis (fr)
- Application de la spectrométrie des rayons X au dosage des faibles teneurs de métaux dans les minerais (fr)
- Analyse structurale et chimique des matériaux éd. (fr)
- Scanning electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (fr)
- Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides (fr)
- A new atomic database for X-ray spectroscopic calculations (fr)
- Fluorescence spectrometry 2nd ed. (fr)
- Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis (fr)
- Application de la spectrométrie des rayons X au dosage des faibles teneurs de métaux dans les minerais (fr)
- Analyse structurale et chimique des matériaux éd. (fr)
- Scanning electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (fr)
|
| prop-fr:titreChapitre
|
- Spectromètre de rayons X (fr)
- The physics of X-Ray (fr)
- Spectromètre de rayons X (fr)
- The physics of X-Ray (fr)
|
| prop-fr:titreOuvrage
|
- Electron beam X-Ray Microanalysis (fr)
- Microanalyse et Microscopie à balayage (fr)
- Electron beam X-Ray Microanalysis (fr)
- Microanalyse et Microscopie à balayage (fr)
|
| prop-fr:volume
|
- 13 (xsd:integer)
- 63 (xsd:integer)
|
| prop-fr:wikiPageUsesTemplate
| |
| prop-fr:wikibooks
|
- Spectrométrie de fluorescence X (fr)
- Spectrométrie de fluorescence X (fr)
|
| prop-fr:éditeur
| |
| dct:subject
| |
| rdfs:comment
|
- La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : (fr)
- La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X. Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : (fr)
|
| rdfs:label
|
- Röntgenfluoreszenz (de)
- Spectrométrie de fluorescence des rayons X (fr)
- X-ray fluorescence (en)
- X射线荧光光谱仪 (zh)
- 蛍光X線 (ja)
|
| rdfs:seeAlso
| |
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:depiction
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageDisambiguates
of | |
| is dbo:wikiPageRedirects
of | |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is prop-fr:instrument4Type
of | |
| is oa:hasTarget
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
