La spectrométrie de fluorescence des rayons X en réflexion totale (TXRF) est une méthode d’analyse très utile en chimie analytique. Le principe général de cette technique est similaire à la spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF), une autre méthode qui implique aussi l’utilisation d’une source de rayons X afin d’exciter les atomes et d’ensuite émettre une radiation caractéristique. Elle possède aussi des similarités avec les méthodes de spectrométrie atomique (AAS, ICP-OES). La TXRF est généralement utilisée pour l’analyse de surface, l’analyse micro et de trace. De façon globale, la TXRF repose sur le fait que lorsqu’un atome est irradié par une source de rayon possédant une certaine longueur d’onde, soit ici les rayons X, il va émettre à son tour des radiations secondaires (rayo

Property Value
dbo:abstract
  • La spectrométrie de fluorescence des rayons X en réflexion totale (TXRF) est une méthode d’analyse très utile en chimie analytique. Le principe général de cette technique est similaire à la spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF), une autre méthode qui implique aussi l’utilisation d’une source de rayons X afin d’exciter les atomes et d’ensuite émettre une radiation caractéristique. Elle possède aussi des similarités avec les méthodes de spectrométrie atomique (AAS, ICP-OES). La TXRF est généralement utilisée pour l’analyse de surface, l’analyse micro et de trace. De façon globale, la TXRF repose sur le fait que lorsqu’un atome est irradié par une source de rayon possédant une certaine longueur d’onde, soit ici les rayons X, il va émettre à son tour des radiations secondaires (rayons X) en fluorescence, ce qui est aussi vrai pour la XRF. Les majeures différences entre ces deux techniques sont l’utilisation de radiation monochromatique, l’emploi de l’optique de réflexion totale et la précision que l’on peut atteindre avec la TXRF en comparaison à la XRF. (fr)
  • La spectrométrie de fluorescence des rayons X en réflexion totale (TXRF) est une méthode d’analyse très utile en chimie analytique. Le principe général de cette technique est similaire à la spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF), une autre méthode qui implique aussi l’utilisation d’une source de rayons X afin d’exciter les atomes et d’ensuite émettre une radiation caractéristique. Elle possède aussi des similarités avec les méthodes de spectrométrie atomique (AAS, ICP-OES). La TXRF est généralement utilisée pour l’analyse de surface, l’analyse micro et de trace. De façon globale, la TXRF repose sur le fait que lorsqu’un atome est irradié par une source de rayon possédant une certaine longueur d’onde, soit ici les rayons X, il va émettre à son tour des radiations secondaires (rayons X) en fluorescence, ce qui est aussi vrai pour la XRF. Les majeures différences entre ces deux techniques sont l’utilisation de radiation monochromatique, l’emploi de l’optique de réflexion totale et la précision que l’on peut atteindre avec la TXRF en comparaison à la XRF. (fr)
dbo:thumbnail
dbo:wikiPageID
  • 1216515 (xsd:integer)
dbo:wikiPageLength
  • 26093 (xsd:nonNegativeInteger)
dbo:wikiPageRevisionID
  • 172146494 (xsd:integer)
dbo:wikiPageWikiLink
prop-fr:wikiPageUsesTemplate
dct:subject
rdfs:comment
  • La spectrométrie de fluorescence des rayons X en réflexion totale (TXRF) est une méthode d’analyse très utile en chimie analytique. Le principe général de cette technique est similaire à la spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF), une autre méthode qui implique aussi l’utilisation d’une source de rayons X afin d’exciter les atomes et d’ensuite émettre une radiation caractéristique. Elle possède aussi des similarités avec les méthodes de spectrométrie atomique (AAS, ICP-OES). La TXRF est généralement utilisée pour l’analyse de surface, l’analyse micro et de trace. De façon globale, la TXRF repose sur le fait que lorsqu’un atome est irradié par une source de rayon possédant une certaine longueur d’onde, soit ici les rayons X, il va émettre à son tour des radiations secondaires (rayo (fr)
  • La spectrométrie de fluorescence des rayons X en réflexion totale (TXRF) est une méthode d’analyse très utile en chimie analytique. Le principe général de cette technique est similaire à la spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF), une autre méthode qui implique aussi l’utilisation d’une source de rayons X afin d’exciter les atomes et d’ensuite émettre une radiation caractéristique. Elle possède aussi des similarités avec les méthodes de spectrométrie atomique (AAS, ICP-OES). La TXRF est généralement utilisée pour l’analyse de surface, l’analyse micro et de trace. De façon globale, la TXRF repose sur le fait que lorsqu’un atome est irradié par une source de rayon possédant une certaine longueur d’onde, soit ici les rayons X, il va émettre à son tour des radiations secondaires (rayo (fr)
rdfs:label
  • Fluorescence des rayons X en réflexion totale (fr)
  • Fluorescence des rayons X en réflexion totale (fr)
owl:sameAs
prov:wasDerivedFrom
foaf:depiction
foaf:isPrimaryTopicOf
is dbo:wikiPageRedirects of
is dbo:wikiPageWikiLink of
is oa:hasTarget of
is foaf:primaryTopic of