La cristallographie aux rayons X ou diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l'abréviation anglaise XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse fondée sur la diffraction des rayons X sur la matière. La diffraction n'ayant lieu que sur la matière cristalline, on parle aussi de radiocristallographie. Pour les matériaux non-cristallins, on parle de diffusion.

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  • La cristallographie aux rayons X ou diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l'abréviation anglaise XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse fondée sur la diffraction des rayons X sur la matière. La diffraction n'ayant lieu que sur la matière cristalline, on parle aussi de radiocristallographie. Pour les matériaux non-cristallins, on parle de diffusion. La diffraction fait partie des méthodes de diffusion élastique.Cette méthode utilise un faisceau de rayons X qui rencontre le cristal provoquant la dispersion du faisceau lumineux dans des directions spécifiques. Par la mesure des angles et de l'intensité des rayons réfractés, il est possible d'obtenir une image tridimensionnelle de la densité électronique dans le cristal. À partir de cette densité, la position moyenne des atomes du cristal peut être déterminée, ainsi que leurs liaisons chimiques, leur entropie et d'autres informations.L'appareil de mesure s'appelle un diffractomètre. Les données collectées forment le diagramme de diffraction ou diffractogramme.
  • X線回折(エックスせんかいせつ、X‐ray diffraction、XRD)は、X線が結晶格子で回折を示す現象である。1912年にドイツのマックス・フォン・ラウエがこの現象を発見し、X線の正体が波長の短い電磁波であることを明らかにした。逆にこの現象を利用して物質の結晶構造を調べることが可能である。このようにX線の回折の結果を解析して結晶内部で原子がどのように配列しているかを決定する手法をX線結晶構造解析あるいはX線回折法という。しばしばこれをX線回折と略して呼ぶ。他に同じように回折現象を利用する結晶構造解析の手法として、電子回折法や中性子回折法がある。
  • La cristallografia a raggi X è una tecnica della cristallografia in cui l'immagine, prodotta dalla diffrazione dei raggi X attraverso lo spazio del reticolo atomico in un cristallo, viene registrata e quindi analizzata per rivelare la natura del reticolo. In genere, questo porta a determinare il materiale e la struttura molecolare di una sostanza.Lo spazio nel reticolo cristallino può essere determinato con la legge di Bragg. Gli elettroni che circondano gli atomi, piuttosto che i nuclei degli atomi stessi, sono le particelle che interagiscono fisicamente con i fotoni dei raggi X.Nella cristallografia a raggi un fascio di raggi X colpisce il cristallo stesso e viene quindi diffratto in direzioni specifiche. A seconda degli angoli e dell'intensità di questi raggi diffratti un cristallografo può produrre un'immagine tridimensionale della densità di elettroni nel cristallo. Da questa è possibile ricavare le posizione media degli atomi, così come anche i loro legami chimici ed altre informazioni.Dato che numerose molecole organiche, inorganiche e biologiche formano cristalli (tra questi, ad esempio, i sali, i metalli ed i semiconduttori) la cristallografia è utilizzata in numerose applicazioni scientifiche in campi differenti. Nel primo decennio di utilizzo questo metodo ha permesso di determinare la grandezza degli atomi, la lunghezza ed il tipo dei legami chimici e lo studio su scala atomica delle differenze tra i vari materiali in particolare metalli e leghe. Questa tecnica ha anche permesso di studiare la struttura ed il funzionamento di molte molecole biologiche, incluse le vitamine, proteine e acidi nucleici come quelli presenti nel DNA.La cristallografia a raggi X è ancora il metodo principalmente utilizzato per la caratterizzazione atomica dei nuovi materiali e per differenziare materiali che appaiono simili ad altre tecniche di indagine. La struttura cristallina ottenuta dai raggi X può spiegare la presenza di inusuali proprietà elastiche e elettroniche in un materiale.In una misura di diffrazione a raggi X un cristallo è montato su un goniometro e gradualmente ruotato mentre viene bombardato con raggi X che producono una figura di diffrazione di punti regolarmente spaziati. Se il cristallo è troppo piccolo o non omogeneo questo risulta in una bassa risoluzione dell'immagine.La cristallografia a raggi X è uno dei metodi per determinare le strutture atomiche insieme allo scattering di elettroni o neutroni. Se non si possono ottenere cristalli di grandezza sufficiente è possibile applicare altre tecniche a raggi X per ottenere informazioni meno dettagliate sul cristallo come la diffrazione di raggi X su fibra, la diffrazione da polveri e la tecnica SAXS (small-angle X-ray scattering).Se il materiale da esaminare è disponibile solo in forma di polveri nanocristalline o soffre di bassa cristallinità possono essere applicati i metodi della cristallografia elettronica possono essere applicati per la determinazione della struttura atomica.Per tutti i metodi menzionati qui sopra lo scattering è elastico; i raggi X diffratti hanno la stessa lunghezza d'onda di quelli incidenti. Per contro metodi di scattering inelastico di raggi X sono utilizzati per studiare gli stati eccitati di un campione.
  • La cristalografía de rayos X es una técnica experimental para el estudio y análisis de materiales, basada en el fenómeno de difracción de los rayos X por sólidos en estado cristalino.Los rayos X son difractados por los electrones que rodean los átomos por ser su longitud de onda del mismo orden de magnitud que el radio atómico. El haz de rayos X emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos encontrados en su camino. Los cristales, gracias a su estructura periódica, dispersan elásticamente los haces de rayos X en ciertas direcciones y los amplifican por interferencia constructiva, originando un patrón de difracción. Existen varios tipos de detectores especiales para observar y medir la intensidad y posición de los rayos X difractados, y su análisis posterior por medios matemáticos permite obtener una representación a escala atómica de los átomos y moléculas del material estudiado.Max von Laue realizó los primeros experimentos de cristalografía de rayos X en 1912. Von Laue, William Henry Bragg y William Lawrence Bragg desarrollaron inicialmente la teoría de difracción de cristales, tarea a la que pronto se sumaron otros científicos. A lo largo del siglo XX tuvieron lugar varios avances teóricos y técnicos, como la aparición de los superordenadores y el uso de sincrotrones para la producción de rayos X, que incrementaron la capacidad del método para determinar las propiedades estructurales de todo tipo de moléculas: sales, materiales inorgánicos complejos, proteínas y hasta componentes celulares como los ribosomas. Es posible trabajar con monocristales o con polvo microcristalino, consiguiéndose diferentes datos en ambos casos: para las aplicaciones que requieren solo una caracterización precisa de los parámetros de la red cristalina, puede ser suficiente la difracción de rayos X por polvo; para una dilucidación precisa de las posiciones atómicas es preferible trabajar con monocristales.Dada la relación existente entre la estructura tridimensional de las moléculas y sus propiedades químicas y físicas, la cristalografía ha contribuido al avance en varias disciplinas científicas como la química, la biología molecular, la geología, la física aplicada y la ciencia de materiales. La amplia disponibilidad de tubos de rayos X, complementada con el desarrollo de fuentes de rayos X de alta intensidad ha aumentado significativamente su impacto en estos campos de investigación así como en áreas con aplicaciones industriales, como el desarrollo de fármacos y la mineralogía aplicada. La mayor limitación de este método es la necesidad de trabajar con sistemas cristalinos, por lo que no es aplicable a disoluciones, a sistemas biológicos in vivo, a sistemas amorfos o a gases. En algunos casos, los rayos X pueden romper los enlaces químicos que mantienen la integridad estructural, lo que resulta en un modelo distorsionado de la molécula estudiada. Este problema afecta especialmente a los materiales de interés biológico.
  • Röntgendiffractie is een techniek om de structuur van vaste stoffen te bepalen. Als de techniek op kristallen wordt toegepast (een kristallografische techniek) kan daarmee de kristalstructuur zeer nauwkeurig worden bepaald. De techniek wordt gebruikt voor de bepaling van de structuur van mineralen, eenvoudige en minder eenvoudige organische verbindingen zowel als eiwitten. Men kan de röntgendiffractie zien als één van de nauwkeurigste microscopische technieken die bekend zijn. Waar echte (optische) microscopen (bijvoorbeeld met behulp van Atomic force microscopie) inmiddels net in staat zijn om individuele atomen te zien, kan met röntgendiffractie de positie van de atomen nog 100-1000 maal nauwkeuriger worden bepaald.
  • X-ray crystallography is a tool used for determining the atomic and molecular structure of a crystal, in which the crystalline atoms cause a beam of incident X-rays to diffract into many specific directions. By measuring the angles and intensities of these diffracted beams, a crystallographer can produce a three-dimensional picture of the density of electrons within the crystal. From this electron density, the mean positions of the atoms in the crystal can be determined, as well as their chemical bonds, their disorder and various other information.Since many materials can form crystals—such as salts, metals, minerals, semiconductors, as well as various inorganic, organic and biological molecules—X-ray crystallography has been fundamental in the development of many scientific fields. In its first decades of use, this method determined the size of atoms, the lengths and types of chemical bonds, and the atomic-scale differences among various materials, especially minerals and alloys. The method also revealed the structure and function of many biological molecules, including vitamins, drugs, proteins and nucleic acids such as DNA. X-ray crystallography is still the chief method for characterizing the atomic structure of new materials and in discerning materials that appear similar by other experiments. X-ray crystal structures can also account for unusual electronic or elastic properties of a material, shed light on chemical interactions and processes, or serve as the basis for designing pharmaceuticals against diseases.In an X-ray diffraction measurement, a crystal is mounted on a goniometer and gradually rotated while being bombarded with X-rays, producing a diffraction pattern of regularly spaced spots known as reflections. The two-dimensional images taken at different rotations are converted into a three-dimensional model of the density of electrons within the crystal using the mathematical method of Fourier transforms, combined with chemical data known for the sample. Poor resolution (fuzziness) or even errors may result if the crystals are too small, or not uniform enough in their internal makeup.X-ray crystallography is related to several other methods for determining atomic structures. Similar diffraction patterns can be produced by scattering electrons or neutrons, which are likewise interpreted as a Fourier transform. If single crystals of sufficient size cannot be obtained, various other X-ray methods can be applied to obtain less detailed information; such methods include fiber diffraction, powder diffraction and small-angle X-ray scattering (SAXS).If the material under investigation is only available in the form of nanocrystalline powders or suffers from poor crystallinity, the methods of electron crystallography can be applied for determining the atomic structure.For all above mentioned X-ray diffraction methods, the scattering is elastic; the scattered X-rays have the same wavelength as the incoming X-ray. By contrast, inelastic X-ray scattering methods are useful in studying excitations of the sample, rather than the distribution of its atoms.[citation needed]
  • No princípio tentou-se realizar a difração em um anteparo de chumbo com um orifício central, no entanto nada ocorreu, então chegou-se a conclusão que como o raio X apresentava um comprimento de onda muito pequeno seria muito difícil construir um obstáculo artificial. Foi a partir daí que começou a se usar os cristais para realizar a difração dos raios X (raios Röntgen).Graças ao processo de difração foi possível determinar o comprimento de onda do raio X e concluiu-se que era menor que o comprimento de onda do raio ultravioleta e da mesma ordem que o tamanho do átomo.O primeiro físico a usar os cristais como rede de difração para o raio-x foi Max Von Laue e por isso ganhou o prêmio nobel em 1914.
  • Рентгенострукту́рный ана́лиз (рентгенодифракционный анализ) — один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решётке.Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллах открыл Лауэ, теоретическое обоснование явлению дали Вульф и Брэгг (условие Вульфа-Брэгга). Как метод, рентгеноструктурный анализ разработан Дебаем и Шеррером.Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла.Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространенным методом определения структуры вещества в силу его простоты и относительной дешевизны.
  • Rentgenová strukturní analýza (v biochemii často nazývána rentgenová krystalografie, německy Röntgenstrukturanalyse, anglicky X-ray structure analysis, nebo X-ray crystallography) je analytická metoda zabývající se studiem interakce krystalických vzorků s rentgenovým zářením, která umožňuje určit absolutní strukturu molekul, tj. polohy atomů, vazebné délky a úhly v krystalové mřížce.
  • Rentgenografia strukturalna – technika analityczna używana w krystalografii i chemii. W krystalografii jest stosowana w celu ustalenia wymiarów i geometrii komórki elementarnej tworzącej daną sieć krystaliczną. W chemii metoda ta umożliwia dokładne ustalenie struktury związków chemicznych tworzących analizowane kryształy.
  • X선 회절(X‐ray diffraction, XRD)은 결정격자를 통과한 X선의 회절을 나타낸 영상이다.1912년 막스 폰 라우에가 이 현상을 발견하여 X선이 사실은 파장이 짧은 전자기파라는 것을 밝혔다.거꾸로 이 현상을 이용해 물질의 결정 구조를 조사하는 것이 가능하다. 이러한 X선 회절의 결과를 해석해 결정 내부의 원자가 어떤 배열을 하고 있는가를 밝히는 방법을 'X선 결정구조해석' 또는 'X선 회절법'이라 한다. 이 외에 회절현상을 이용한 결정구조해석의 방법으로 전자회절법, 중성자회절법 등이 있다.
  • La cristal·lografia de raigs X és un mètode per determinar la disposició dels àtoms dins un cristall, en aquest mètode un feix de raigs X colpeja el cristall i causa que el feix de llum s'estengui en moltes direccions específiques. Dels angles i la intensitat d'aquest feixos difractats, un cristal·lògraf pot produir una imatge tridimensional de la densitat dels electrons dins el cristall. D'aquesta densitat d'electrons, es pot determinar les posicions mitjanes dels àtoms en el cristall i també els seus enllaços químics, el seu desordre i altres informacions.Com que molts materials poden formar cristalls—com les sals, metalls, minerals, semiconductors, com també diveros materials inorgànics, orgànics i molècules biològiques—la cristal·lografia de raigs X ha estat fonamental en els desenvolupament de molts camps científics. En les seves priemres èpoques d'usar-se aquest mètode ha determinat la mida dels àtoms, la llargada i tipus dels enllaços químics, i les diferències a escala atòmica aentre diversos materials, especialment minerals i aliatgess. Aquest mètode també ha revelat l'estructura i funció de moltes molècules biològiques, incloent les vitamines, drogues, proteïnes i àcids nucleics com l'ADN. També serveix per conéixer l'estructura atòmica dels nous materials. També en electrònica i enginyeria (deformació dels materials) es fa servir. En el mesurament per difracció dels raigs X, es munta un cristall en un goniòmetre i gradualment se'l fa rotar mentre és bombardejat amb raigs X, que produeix un patró de difracció de zones regularment espaiades conegudes com a reflecccions. Les dues imatges bidimensionals preses a rotacions diferents es converteixen en un model tridimensional de la densiotat d'electrons dins el cristall fen servir el model matemàtic de les transformacions de Fourier, combinat amb les dades químiques conegudes de la mostra. Hi pot haver una resolució pobra (fuzziness) o fins i tot errors si el cristall és massa petit, o no uiforme internament.Si el material que s'investiga només és disponible en forma de pols de nannocristalls o té una pobra cristal·linitat, es poden fer servir els mètodes de la cristal·lografia d'electrons per determinar-ne l'estructura atòmica.
  • Röntgenbeugung, auch Röntgendiffraktion (englisch X-ray diffraction, XRD) genannt, ist die Beugung von Röntgenstrahlung an geordneten Strukturen wie Kristallen oder Quasikristallen. Grundsätzlich zeigt Röntgenstrahlung die gleichen Beugungserscheinungen wie Licht und alle anderen elektromagnetischen Wellen. Röntgenbeugung wird in der Materialphysik, der Kristallographie, der Chemie und der Biochemie eingesetzt, um die Struktur von Kristallen zu untersuchen, die sogenannte Röntgendiffraktometrie. Beispielsweise spielten Ergebnisse der Röntgenstreuung eine wichtige Rolle bei der Strukturanalyse der DNS. Die dazu eingesetzten Messgeräte heißen Röntgendiffraktometer.
  • A röntgendiffrakció egy anyagvizsgálati módszer megnevezése. A klasszikus kísérletet Max von Laue német tudós végezte el.
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  • La cristallographie aux rayons X ou diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l'abréviation anglaise XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse fondée sur la diffraction des rayons X sur la matière. La diffraction n'ayant lieu que sur la matière cristalline, on parle aussi de radiocristallographie. Pour les matériaux non-cristallins, on parle de diffusion.
  • X線回折(エックスせんかいせつ、X‐ray diffraction、XRD)は、X線が結晶格子で回折を示す現象である。1912年にドイツのマックス・フォン・ラウエがこの現象を発見し、X線の正体が波長の短い電磁波であることを明らかにした。逆にこの現象を利用して物質の結晶構造を調べることが可能である。このようにX線の回折の結果を解析して結晶内部で原子がどのように配列しているかを決定する手法をX線結晶構造解析あるいはX線回折法という。しばしばこれをX線回折と略して呼ぶ。他に同じように回折現象を利用する結晶構造解析の手法として、電子回折法や中性子回折法がある。
  • Rentgenová strukturní analýza (v biochemii často nazývána rentgenová krystalografie, německy Röntgenstrukturanalyse, anglicky X-ray structure analysis, nebo X-ray crystallography) je analytická metoda zabývající se studiem interakce krystalických vzorků s rentgenovým zářením, která umožňuje určit absolutní strukturu molekul, tj. polohy atomů, vazebné délky a úhly v krystalové mřížce.
  • Rentgenografia strukturalna – technika analityczna używana w krystalografii i chemii. W krystalografii jest stosowana w celu ustalenia wymiarów i geometrii komórki elementarnej tworzącej daną sieć krystaliczną. W chemii metoda ta umożliwia dokładne ustalenie struktury związków chemicznych tworzących analizowane kryształy.
  • X선 회절(X‐ray diffraction, XRD)은 결정격자를 통과한 X선의 회절을 나타낸 영상이다.1912년 막스 폰 라우에가 이 현상을 발견하여 X선이 사실은 파장이 짧은 전자기파라는 것을 밝혔다.거꾸로 이 현상을 이용해 물질의 결정 구조를 조사하는 것이 가능하다. 이러한 X선 회절의 결과를 해석해 결정 내부의 원자가 어떤 배열을 하고 있는가를 밝히는 방법을 'X선 결정구조해석' 또는 'X선 회절법'이라 한다. 이 외에 회절현상을 이용한 결정구조해석의 방법으로 전자회절법, 중성자회절법 등이 있다.
  • A röntgendiffrakció egy anyagvizsgálati módszer megnevezése. A klasszikus kísérletet Max von Laue német tudós végezte el.
  • La cristal·lografia de raigs X és un mètode per determinar la disposició dels àtoms dins un cristall, en aquest mètode un feix de raigs X colpeja el cristall i causa que el feix de llum s'estengui en moltes direccions específiques. Dels angles i la intensitat d'aquest feixos difractats, un cristal·lògraf pot produir una imatge tridimensional de la densitat dels electrons dins el cristall.
  • No princípio tentou-se realizar a difração em um anteparo de chumbo com um orifício central, no entanto nada ocorreu, então chegou-se a conclusão que como o raio X apresentava um comprimento de onda muito pequeno seria muito difícil construir um obstáculo artificial.
  • La cristallografia a raggi X è una tecnica della cristallografia in cui l'immagine, prodotta dalla diffrazione dei raggi X attraverso lo spazio del reticolo atomico in un cristallo, viene registrata e quindi analizzata per rivelare la natura del reticolo. In genere, questo porta a determinare il materiale e la struttura molecolare di una sostanza.Lo spazio nel reticolo cristallino può essere determinato con la legge di Bragg.
  • Röntgendiffractie is een techniek om de structuur van vaste stoffen te bepalen. Als de techniek op kristallen wordt toegepast (een kristallografische techniek) kan daarmee de kristalstructuur zeer nauwkeurig worden bepaald. De techniek wordt gebruikt voor de bepaling van de structuur van mineralen, eenvoudige en minder eenvoudige organische verbindingen zowel als eiwitten. Men kan de röntgendiffractie zien als één van de nauwkeurigste microscopische technieken die bekend zijn.
  • La cristalografía de rayos X es una técnica experimental para el estudio y análisis de materiales, basada en el fenómeno de difracción de los rayos X por sólidos en estado cristalino.Los rayos X son difractados por los electrones que rodean los átomos por ser su longitud de onda del mismo orden de magnitud que el radio atómico. El haz de rayos X emergente tras esta interacción contiene información sobre la posición y tipo de átomos encontrados en su camino.
  • Röntgenbeugung, auch Röntgendiffraktion (englisch X-ray diffraction, XRD) genannt, ist die Beugung von Röntgenstrahlung an geordneten Strukturen wie Kristallen oder Quasikristallen. Grundsätzlich zeigt Röntgenstrahlung die gleichen Beugungserscheinungen wie Licht und alle anderen elektromagnetischen Wellen.
  • X-ray crystallography is a tool used for determining the atomic and molecular structure of a crystal, in which the crystalline atoms cause a beam of incident X-rays to diffract into many specific directions. By measuring the angles and intensities of these diffracted beams, a crystallographer can produce a three-dimensional picture of the density of electrons within the crystal.
  • Рентгенострукту́рный ана́лиз (рентгенодифракционный анализ) — один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трехмерной кристаллической решётке.Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллах открыл Лауэ, теоретическое обоснование явлению дали Вульф и Брэгг (условие Вульфа-Брэгга).
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  • Cristallographie aux rayons X
  • Cristallografia a raggi X
  • Cristalografía de rayos X
  • Cristal·lografia de raigs X
  • Difração de raios X
  • Rentgenografia strukturalna
  • Rentgenová krystalografie
  • Röntgenbeugung
  • Röntgendiffractie
  • Röntgendiffrakció
  • X-ray crystallography
  • X線回折
  • X선 회절
  • Рентгеноструктурный анализ
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