| Property |
Value |
| dbo:abstract
|
- L'Équation de Black est un modèle mathématique estimant le temps moyen jusqu'à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d'électromigration.L'équation tient son nom de l’américain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les résultats de ses observations sur la défaillance des pistes des circuits microélectroniques. Ces résultats prennent la forme d'une équation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste : est une constante est la densité de courant est un paramètre du modèle est l'énergie d'activation en eV (électron-volt) est la constante de Boltzmann est la température absolue en K (fr)
- L'Équation de Black est un modèle mathématique estimant le temps moyen jusqu'à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d'électromigration.L'équation tient son nom de l’américain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les résultats de ses observations sur la défaillance des pistes des circuits microélectroniques. Ces résultats prennent la forme d'une équation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste : est une constante est la densité de courant est un paramètre du modèle est l'énergie d'activation en eV (électron-volt) est la constante de Boltzmann est la température absolue en K (fr)
|
| dbo:wikiPageExternalLink
| |
| dbo:wikiPageID
| |
| dbo:wikiPageLength
|
- 1890 (xsd:nonNegativeInteger)
|
| dbo:wikiPageRevisionID
| |
| dbo:wikiPageWikiLink
| |
| prop-fr:consultéLe
| |
| prop-fr:date
|
- 1969 (xsd:integer)
- 2005-12-15 (xsd:date)
|
| prop-fr:journal
|
- IEEE Transaction on Electron Devices (fr)
- IEEE Transaction on Electron Devices (fr)
|
| prop-fr:langue
| |
| prop-fr:nom
|
- Black (fr)
- Sjøthun (fr)
- Black (fr)
- Sjøthun (fr)
|
| prop-fr:numéro
| |
| prop-fr:pages
| |
| prop-fr:prénom
|
- J.R. (fr)
- Sverre (fr)
- J.R. (fr)
- Sverre (fr)
|
| prop-fr:titre
|
- Electromigration - A Brief Survey and Some Recent Results (fr)
- Semiconductor Electromigration In-Depth (fr)
- Electromigration - A Brief Survey and Some Recent Results (fr)
- Semiconductor Electromigration In-Depth (fr)
|
| prop-fr:url
| |
| prop-fr:volume
|
- ED-16Electronic design automatio (fr)
- ED-16Electronic design automatio (fr)
|
| prop-fr:wikiPageUsesTemplate
| |
| prop-fr:éditeur
|
- IEEE (fr)
- Answers.com (fr)
- IEEE (fr)
- Answers.com (fr)
|
| dct:subject
| |
| rdfs:comment
|
- L'Équation de Black est un modèle mathématique estimant le temps moyen jusqu'à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d'électromigration.L'équation tient son nom de l’américain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les résultats de ses observations sur la défaillance des pistes des circuits microélectroniques. Ces résultats prennent la forme d'une équation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste : (fr)
- L'Équation de Black est un modèle mathématique estimant le temps moyen jusqu'à la défaillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit microélectronique provoquée par le phénomène d'électromigration.L'équation tient son nom de l’américain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les résultats de ses observations sur la défaillance des pistes des circuits microélectroniques. Ces résultats prennent la forme d'une équation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste : (fr)
|
| rdfs:label
|
- Ecuación de Black (es)
- Équation de Black (fr)
- Ecuación de Black (es)
- Équation de Black (fr)
|
| owl:sameAs
| |
| prov:wasDerivedFrom
| |
| foaf:isPrimaryTopicOf
| |
| is dbo:wikiPageWikiLink
of | |
| is oa:hasTarget
of | |
| is foaf:primaryTopic
of | |
