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- Basiquement, on peut définir l'électromigration comme le déplacement d’atomes dans un conducteur induit par un flux d’électrons.Ce mécanisme n’apparait que dans les applications où l’on observe de très forte densité de courant comme en microélectronique. (fr)
- Basiquement, on peut définir l'électromigration comme le déplacement d’atomes dans un conducteur induit par un flux d’électrons.Ce mécanisme n’apparait que dans les applications où l’on observe de très forte densité de courant comme en microélectronique. (fr)
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| prop-fr:auteur
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- JAP (fr)
- Applied Physics Letters (fr)
- Journal of Applied Physics (fr)
- IEEE Transaction on Electron Devices (fr)
- Proceedings of the International Symposium on Physical Design (fr)
- JAP (fr)
- Applied Physics Letters (fr)
- Journal of Applied Physics (fr)
- IEEE Transaction on Electron Devices (fr)
- Proceedings of the International Symposium on Physical Design (fr)
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| prop-fr:nom
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- Wang (fr)
- Black (fr)
- Korhonen (fr)
- Lienig (fr)
- Wang (fr)
- Black (fr)
- Korhonen (fr)
- Lienig (fr)
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| prop-fr:prénom
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- Jens (fr)
- M. A. (fr)
- J.R. (fr)
- P.-C. (fr)
- I.A. (fr)
- Jens (fr)
- M. A. (fr)
- J.R. (fr)
- P.-C. (fr)
- I.A. (fr)
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| prop-fr:titre
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- Electromigration-induced stress in aluminum conductor lines measured by x-ray microdiffraction (fr)
- Stress evolution due to electromigration in confined metal lines (fr)
- Electromigration in thin aluminum films on titanium nitride (fr)
- Introduction to Electromigration-Aware Physical Design (fr)
- Electromigration - A Brief Survey and Some Recent Results (fr)
- Electromigration-induced stress in aluminum conductor lines measured by x-ray microdiffraction (fr)
- Stress evolution due to electromigration in confined metal lines (fr)
- Electromigration in thin aluminum films on titanium nitride (fr)
- Introduction to Electromigration-Aware Physical Design (fr)
- Electromigration - A Brief Survey and Some Recent Results (fr)
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- ED-16 (fr)
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- Basiquement, on peut définir l'électromigration comme le déplacement d’atomes dans un conducteur induit par un flux d’électrons.Ce mécanisme n’apparait que dans les applications où l’on observe de très forte densité de courant comme en microélectronique. (fr)
- Basiquement, on peut définir l'électromigration comme le déplacement d’atomes dans un conducteur induit par un flux d’électrons.Ce mécanisme n’apparait que dans les applications où l’on observe de très forte densité de courant comme en microélectronique. (fr)
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- Electromigración (es)
- Electromigration (en)
- Elektromigration (de)
- Électromigration (fr)
- Электромиграция (ru)
- 电迁移 (zh)
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