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- La microscopie SEEC (Surface Enhanced Ellipsometric Contrast) est une technique de microscopie optique haute résolution développée par 2 chercheurs français, D. Ausserré et M.P. Valignat au début des années 2000. Cette technologie combine deux innovations majeures, des surfaces spécifiques dédiées ayant des propriétés optiques spécifiques (SEEC sensors) ainsi qu'un algorithme permettant l'analyse directe et en temps-réel de la topographie et de l'épaisseur de n'importe quel échantillon (Q-SEEC). Voici les principales fonctionnalités de la microscopie SEEC :
* Imagerie nanométrique sans marquage et en temps-réel ;
* Haute sensibilité et très haute résolution axiale ;
* Analyse morphologique et topographique de l'échantillon en 3D et en 4D ;
* Suivi de l'interaction en multiplexe ;
* Analyses possibles en de multiples milieux (eau, gaz, air). (fr)
- La microscopie SEEC (Surface Enhanced Ellipsometric Contrast) est une technique de microscopie optique haute résolution développée par 2 chercheurs français, D. Ausserré et M.P. Valignat au début des années 2000. Cette technologie combine deux innovations majeures, des surfaces spécifiques dédiées ayant des propriétés optiques spécifiques (SEEC sensors) ainsi qu'un algorithme permettant l'analyse directe et en temps-réel de la topographie et de l'épaisseur de n'importe quel échantillon (Q-SEEC). Voici les principales fonctionnalités de la microscopie SEEC :
* Imagerie nanométrique sans marquage et en temps-réel ;
* Haute sensibilité et très haute résolution axiale ;
* Analyse morphologique et topographique de l'échantillon en 3D et en 4D ;
* Suivi de l'interaction en multiplexe ;
* Analyses possibles en de multiples milieux (eau, gaz, air). (fr)
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- La microscopie SEEC (Surface Enhanced Ellipsometric Contrast) est une technique de microscopie optique haute résolution développée par 2 chercheurs français, D. Ausserré et M.P. Valignat au début des années 2000. Cette technologie combine deux innovations majeures, des surfaces spécifiques dédiées ayant des propriétés optiques spécifiques (SEEC sensors) ainsi qu'un algorithme permettant l'analyse directe et en temps-réel de la topographie et de l'épaisseur de n'importe quel échantillon (Q-SEEC). Voici les principales fonctionnalités de la microscopie SEEC : (fr)
- La microscopie SEEC (Surface Enhanced Ellipsometric Contrast) est une technique de microscopie optique haute résolution développée par 2 chercheurs français, D. Ausserré et M.P. Valignat au début des années 2000. Cette technologie combine deux innovations majeures, des surfaces spécifiques dédiées ayant des propriétés optiques spécifiques (SEEC sensors) ainsi qu'un algorithme permettant l'analyse directe et en temps-réel de la topographie et de l'épaisseur de n'importe quel échantillon (Q-SEEC). Voici les principales fonctionnalités de la microscopie SEEC : (fr)
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- Microscopie SEEC (fr)
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