"Ecuaci\u00F3n de Black"@es . . "J.R."@fr . . . "5128924"^^ . . "4"^^ . "L'\u00C9quation de Black est un mod\u00E8le math\u00E9matique estimant le temps moyen jusqu'\u00E0 la d\u00E9faillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit micro\u00E9lectronique provoqu\u00E9e par le ph\u00E9nom\u00E8ne d'\u00E9lectromigration.L'\u00E9quation tient son nom de l\u2019am\u00E9ricain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les r\u00E9sultats de ses observations sur la d\u00E9faillance des pistes des circuits micro\u00E9lectroniques. Ces r\u00E9sultats prennent la forme d'une \u00E9quation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste :"@fr . . "2006-11-14"^^ . . . . "Black"@fr . "ED-16Electronic design automatio"@fr . "1969"^^ . . "99457166"^^ . . "en"@fr . "IEEE"@fr . "1890"^^ . . . "Electromigration - A Brief Survey and Some Recent Results"@fr . . . . "L'\u00C9quation de Black est un mod\u00E8le math\u00E9matique estimant le temps moyen jusqu'\u00E0 la d\u00E9faillance (MTTF : mean time to failure en anglais) d'un circuit micro\u00E9lectronique provoqu\u00E9e par le ph\u00E9nom\u00E8ne d'\u00E9lectromigration.L'\u00E9quation tient son nom de l\u2019am\u00E9ricain J. R. Black.Dans un papier de 1967, Black expose les r\u00E9sultats de ses observations sur la d\u00E9faillance des pistes des circuits micro\u00E9lectroniques. Ces r\u00E9sultats prennent la forme d'une \u00E9quation empirique qui permet d'estimer la MTTF d'une piste : est une constante est la densit\u00E9 de courant est un param\u00E8tre du mod\u00E8le est l'\u00E9nergie d'activation en eV (\u00E9lectron-volt) est la constante de Boltzmann est la temp\u00E9rature absolue en K"@fr . . "338"^^ . . . "Semiconductor Electromigration In-Depth"@fr . . . "Sverre"@fr . "\u00C9quation de Black"@fr . . . . "Sj\u00F8thun"@fr . "IEEE Transaction on Electron Devices"@fr . . "Answers.com"@fr . . "2005-12-15"^^ .