This HTML5 document contains 36 embedded RDF statements represented using HTML+Microdata notation.

The embedded RDF content will be recognized by any processor of HTML5 Microdata.

Namespace Prefixes

PrefixIRI
n18http://g.co/kg/g/
dcthttp://purl.org/dc/terms/
dbohttp://dbpedia.org/ontology/
foafhttp://xmlns.com/foaf/0.1/
rdfshttp://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#
category-frhttp://fr.dbpedia.org/resource/Catégorie:
n9http://fr.dbpedia.org/resource/Modèle:
n6http://
n17http://fr.dbpedia.org/resource/Fichier:
wikipedia-frhttp://fr.wikipedia.org/wiki/
n7http://commons.wikimedia.org/wiki/Special:FilePath/
rdfhttp://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#
owlhttp://www.w3.org/2002/07/owl#
n14https://www.phonoptics.fr/_files/ugd/
dbpedia-frhttp://fr.dbpedia.org/resource/
prop-frhttp://fr.dbpedia.org/property/
provhttp://www.w3.org/ns/prov#
xsdhhttp://www.w3.org/2001/XMLSchema#
wikidatahttp://www.wikidata.org/entity/

Statements

Subject Item
dbpedia-fr:Pyroréflectométrie
rdfs:label
Pyroréflectométrie
rdfs:comment
Développé au laboratoire PROMES-CNRS par Daniel Hernandez, la pyroréflectométrie est un procédé qui permet de mesurer la température réelle et l'émissivité d'un matériau par voie optique. Inventé dans les années 1970 par des chercheurs du laboratoire IMP, il a depuis abouti à la conception et à la fabrication de prototypes et de méthodes d'analyse utilisées par l'industrie.
owl:sameAs
wikidata:Q3411345 n18:121y01lh
dbo:wikiPageID
5798161
dbo:wikiPageRevisionID
190807746
dbo:wikiPageWikiLink
dbpedia-fr:Réflectivité dbpedia-fr:Loi_de_Planck dbpedia-fr:Journal_of_Nuclear_Materials category-fr:Capteur dbpedia-fr:Longueur_d'onde category-fr:Instrument_de_mesure dbpedia-fr:Ductilité dbpedia-fr:Daniel_Hernandez dbpedia-fr:PROMES-CNRS category-fr:Température n17:PyRefB.jpg dbpedia-fr:Émissivité
dbo:wikiPageExternalLink
n6:www.helicoidee.com n14:4b654f_c960a2d31d4a4efa82875a467d664aef.pdf'' n6:www.promes.cnrs.fr
dbo:wikiPageLength
4641
dct:subject
category-fr:Instrument_de_mesure category-fr:Température category-fr:Capteur
foaf:homepage
n6:www.promes.cnrs.fr
prop-fr:wikiPageUsesTemplate
n9:... n9:En n9:P. n9:Fr n9:Portail
prov:wasDerivedFrom
wikipedia-fr:Pyroréflectométrie?oldid=190807746&ns=0
foaf:depiction
n7:PyRefB.jpg
dbo:thumbnail
n7:PyRefB.jpg?width=300
foaf:isPrimaryTopicOf
wikipedia-fr:Pyroréflectométrie
dbo:abstract
Développé au laboratoire PROMES-CNRS par Daniel Hernandez, la pyroréflectométrie est un procédé qui permet de mesurer la température réelle et l'émissivité d'un matériau par voie optique. Inventé dans les années 1970 par des chercheurs du laboratoire IMP, il a depuis abouti à la conception et à la fabrication de prototypes et de méthodes d'analyse utilisées par l'industrie. La pyrométrie optique établit la température d'un matériau grâce à la mesure de l'intensité de la lumière qu'il émet. La loi de Planck relie, à longueur d'onde fixe, ces deux grandeurs et permet de les déduire l'une de l'autre. Elle n'est applicable que dans le cas d'un corps parfait et donc, imaginaire. Si les scientifiques veulent vraiment parvenir à leurs fins, les lois du rayonnement thermique leur imposent de connaître aussi les propriétés d'émission lumineuse de l'objet. Il a été conçu un appareil capable de réaliser simultanément ces deux opérations, le « pyroréflectomètre à sonde à fibres optiques ». Cet instrument mesure la lumière émise ainsi que réfléchie par le matériau. En travaillant à la fois sur deux ou trois longueurs d'onde, les calculs permettent de déduire la température de surface de n'importe quel corps opaque. Mieux, profitant du fait que la réflectivité d'un objet varie avec l'état de sa surface, on est aussi capable de suivre, en temps réel, le processus d'usure de pièces mécaniques comme les plaquettes de frein, l'état d'oxydation d'une paroi interne d'un moteur de la fusée Ariane, voire la ductilité de tôles de carrosserie de voiture. Le principe de la pyroréflectométrie bicolore s’appuie sur la mesure de deux températures de luminance et de deux réflectivités directionnelles à deux longueurs d’onde suffisamment proches pour considérer que les indicatrices de réflexion du matériau sont identiques dans ce domaine spectral indépendamment de la température.