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- Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une , ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou . Une perturbation par une particule isolée en elle-même n'est pas considérée comme endommageant de façon permanente la fonctionnalité du transistor ou des circuits contrairement au cas du , d’une isolée ou d’un claquage isolé. Ce sont tous des exemples d'une classe générale d'effets de rayonnement dans les appareils électroniques appelés effets à événement unique (EEU). (fr)
- Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une , ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou . Une perturbation par une particule isolée en elle-même n'est pas considérée comme endommageant de façon permanente la fonctionnalité du transistor ou des circuits contrairement au cas du , d’une isolée ou d’un claquage isolé. Ce sont tous des exemples d'une classe générale d'effets de rayonnement dans les appareils électroniques appelés effets à événement unique (EEU). (fr)
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- A. G. Costantine (fr)
- C. L. Howe (fr)
- D. R. Roth (fr)
- J. A. Thompson (fr)
- R. Islam (fr)
- T. Z. Fullem (fr)
- A. G. Costantine (fr)
- C. L. Howe (fr)
- D. R. Roth (fr)
- J. A. Thompson (fr)
- R. Islam (fr)
- T. Z. Fullem (fr)
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- Code de Johnson (fr)
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- The role of charge collection in the single event upset (fr)
- An Advanced Single Event Upset Tester (fr)
- Design, Construction and Programming of a Microcontroller-Based Testbench Suitable for Radiation Testing of Microelectronic Circuits (fr)
- Radiation-induced energy deposition and single event upset error rates in scaled microelectronic structures (fr)
- High-speed Energy-efficient Soft Error Tolerant Flip-flops (fr)
- Radiation detection using single event upsets in memory chips (fr)
- The role of charge collection in the single event upset (fr)
- An Advanced Single Event Upset Tester (fr)
- Design, Construction and Programming of a Microcontroller-Based Testbench Suitable for Radiation Testing of Microelectronic Circuits (fr)
- Radiation-induced energy deposition and single event upset error rates in scaled microelectronic structures (fr)
- High-speed Energy-efficient Soft Error Tolerant Flip-flops (fr)
- Radiation detection using single event upsets in memory chips (fr)
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- Johnson-Code (fr)
- Libaw-Craig-Code (fr)
- Ring counter (fr)
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- Naval Postgraduate School (fr)
- Concordia University (fr)
- Vanderbilt University (fr)
- Rensselaer Polytechnic Institute (fr)
- Binghamton University (fr)
- Clemson University (fr)
- Naval Postgraduate School (fr)
- Concordia University (fr)
- Vanderbilt University (fr)
- Rensselaer Polytechnic Institute (fr)
- Binghamton University (fr)
- Clemson University (fr)
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- Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une , ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou . (fr)
- Une perturbation par une particule isolée (PPI) (en anglais : Single event upset) est un changement d'état provoqué par une seule particule ionisante (ions, électrons, photons ...) frappant un nœud sensible dans un dispositif microélectronique, comme dans un microprocesseur, une , ou transistors de puissance. Le changement d'état est le résultat de la charge libre créée par ionisation dans ou à proximité d'un nœud important d'un élément logique (par exemple dans un "bit" de mémoire). L'erreur de la donnée de sortie ou du fonctionnement de l'appareil causée par cette impact est appelée perturbation par une particule isolée ou . (fr)
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- Perturbation par une particule isolée (fr)
- Single Event Upset (de)
- Single event upset (es)
- Порушенням в результаті одиничної події (uk)
- Perturbation par une particule isolée (fr)
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