La spectrométrie de fluorescence X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une méthode d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X.Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry) ; par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry).

PropertyValue
dbpedia-owl:abstract
  • La spectrométrie de fluorescence X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une méthode d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X.Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry) ; par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry).
  • 蛍光X線(けいこうXせん)とは、元素に特有の一定以上のエネルギーをもつX線を照射することによって、その物質を構成する原子の内殻の電子が励起されて生じた空孔に、外殻の電子が遷移する際に放出されるX線である。その波長は内殻と外殻のエネルギー差に対応する。内殻・外殻のエネルギー差は元素ごとに固有であるので、蛍光X線のエネルギーも元素に固有である。このことから、蛍光X線のエネルギーを実験的に求めることにより、測定試料を構成する元素の分析を行うことができる。あるいはその強度を測定することにより測定試料中の目的元素の濃度を求めることができる。このような元素分析の手法を蛍光X線元素分析法 (X-ray Fluorescence Analysis, XRF) と呼ぶ。対象となる元素は実用的にはNa (Z = 11) 以上の原子番号を持つ元素である。元素分析法としての特徴は、分析によって試料が破壊されることがない(非破壊分析)、分析は一般には比較的短時間に済む、適当な測定法を用いれば多元素同時分析も可能である、などである。一方放射光を照射光源に用いた放射光蛍光X線分析法では、微量元素分析(ppm以下)、微小領域分析(μm以下)も可能になっている。市販装置は蛍光X線のエネルギー分析の方法の観点から、エネルギー分散型分析装置 (Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer) と波長分散型分析装置 (Wavelength Dispersive X-ray Flourescence Spectrometer) に大別される。前者は検出器自体がX線のエネルギー分析機能を持つ半導体検出器を利用し、後者はブラッグの法則を利用した結晶分光器を用いてエネルギー分析を行う。前者は微小/微量試料の分析に向いておりまた複数元素の同時測定などに特徴あるが、エネルギー分解能は低いので多元素試料では定量性に欠ける場合もある。一方、後者はエネルギー分解能が高いので特定元素の定量性には優れており応用が広いが、感度は前者に比べて低い。蛍光X線分析法は、鉱物や金属、生物学試料の組成分析に広く用いられ、製造現場での品質管理や材料科学における原材料分析、医療分野での標本試料分析など、元素分析の分野で広範に利用されている。蛍光X線分析で特定の元素の内殻電子を励起するためには特定のエネルギー(吸収端エネルギー)以上のエネルギーを持ったX線を照射する必要がある。X線源には最も一般的にはX線管球(一種の真空管)からのX線、また特殊な場合には放射性同位元素 (RI) からのX線が使用され、また近年は、放射光を励起源とした蛍光X線分析も行われている。なお蛍光X線法と類似の元素分析方法として、電子線や陽子・荷電粒子を内殻電子の励起源として用いる方法もある。これらは内殻励起の機構が異なり、得られるスペクトルにもその特徴が現れることからそれぞれ使い分けられている。電子線を用いた分析装置は電子プローブX線マイクロアナライザー (EPMA) などがあり、陽子・荷電粒子を励起源とした分析法は粒子線(陽子)励起X線発光法 (PIXE) と呼ばれる。
  • La fluorescencia de rayos X (XRF, sigla en inglés) consiste en emisión de rayos X secundarios (o fluorescentes) característicos de un material que ha sido excitado al ser «bombardeado» con rayos X de alta energía o rayos gama. Este fenómeno es muy utilizado para análisis elemental y análisis químico, particularmente en la investigación de metales, vidrios, cerámicos y materiales de construcción, así como en la de geoquímica, ciencia forense y arqueología.
  • Röntgenfluoreszenz ist die Emission von charakteristischen sekundären (oder fluoreszierenden) Röntgenstrahlen von einem Material, das mit hochenergetischer Strahlung angeregt wurde. Das Phänomen wird in der Röntgenfluoreszenzanalyse für die Bestimmung der elementaren Zusammensetzung von Metallen, Gläsern, Keramiken und anderer Materialien genutzt.
  • X-ray fluorescence (XRF) is the emission of characteristic "secondary" (or fluorescent) X-rays from a material that has been excited by bombarding with high-energy X-rays or gamma rays. The phenomenon is widely used for elemental analysis and chemical analysis, particularly in the investigation of metals, glass, ceramics and building materials, and for research in geochemistry, forensic science and archaeology.
  • Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА) — один из современных спектроскопических методов исследования вещества с целью получения его элементного состава, то есть его элементного анализа. С помощью него могут анализироваться различные элементы от бериллия (Be) до урана (U). Метод РФА основан на сборе и последующем анализе спектра, полученного путём воздействия на исследуемый материал рентгеновским излучением. При облучении атом переходит в возбуждённое состояние, сопровождающееся переходом электронов на более высокие квантовые уровни. В возбуждённом состоянии атом пребывает крайне малое время, порядка одной микросекунды, после чего возвращается в спокойное положение (основное состояние). При этом электроны с внешних оболочек либо заполняют образовавшиеся вакантные места, а излишек энергии испускается в виде фотона, либо энергия передается другому электрону из внешних оболочек (оже-электрон). При этом каждый атом испускает фотоэлектрон с энергией строго определённого значения, например железо при облучении рентгеновскими лучами испускает фотоны Кα = 6,4 кэВ. Далее соответственно по энергии и количеству квантов судят о строении вещества.В качестве источника излучения могут использоваться как рентгеновские трубки, так и изотопы каких-либо элементов. Поскольку каждая страна имеет свои требования к ввозу и вывозу излучающих изотопов, в производстве рентгенофлуоресцентной техники в последнее время стараются использовать, как правило, рентгеновскую трубку. Трубки могут быть как с родиевым так и с медным, молибденовым, серебряным или другим анодом. Анод трубки, в некоторых случаях, выбирается в зависимости от типа задачи (элементов, требующих анализа), для решения которой будет использоваться данный прибор. Для разных групп элементов используются различные значения силы тока и напряжения на трубке. Для исследования лёгких элементов вполне достаточно установить напряжение 10 кВ, для средних 20-30 кВ, для тяжелых — 40-50 кВ. Кроме того, при исследовании лёгких элементов большое влияние на спектр оказывает атмосфера, поэтому камеру с образцом либо вакуумируют либо заполняют гелием. После возбуждения спектр регистрируется на специальном детекторе. Чем лучше спектральное разрешение детектора, тем точнее он сможет отделять друг от друга фотоны от разных элементов, что в свою очередь скажется и на точности самого прибора. В настоящее время наилучшей возможной разрешающей способностью детектора является 123 эВ.После попадания на детектор фотоэлектрон преобразовывается в импульс напряжения, который в свою очередь подсчитывается счётной электроникой и наконец передается на компьютер. Ниже приведён пример спектра, полученный при анализе корундовой ступки (содержание Al2O3 более 98 %, концентрации Ca, Ti порядка 0,05 %). По пикам полученного спектра можно качественно определить, какие элементы присутствуют в образце. Для получения точного количественного содержания необходимо обработать полученный спектр с помощью специальной программы калибровки (количественной градуировки прибора). Калибровочная программа должна быть предварительно создана с использованием стандартных образцов, чей элементный состав точно известен. Упрощённо, при количественном анализе спектр неизвестного вещества сравнивается со спектрами полученными при облучении стандартных образцов, таким образом получается информация о количественном составе вещества.Рентгенофлуоресцентный метод широко используется в промышленности, научных лабораториях. Благодаря простоте, возможности экспресс-анализа, точности, отсутствию сложной пробоподготовки, сферы его применения продолжают расширяться.
  • Rentgenová fluorescence (zkratka XRF z anglického X-ray fluorescence) je spektroskopická metoda analytické chemie patřící mezi metody elektromagnetické spektroskopie. Využívá se ve forenzní chemii.
  • Onder Röntgenfluorescentie verstaat men een proces van fluorescentie waarbij een materiaal bij bestraling met röntgenstraling ook weer röntgenstraling uitzendt.Het uitgezonden foton heeft een langere golflengte. Het verschil in golflengte vertegenwoordigt een verschil in energie dat in de regel als warmte verloren gaat. De uitgezonden golflengte is karakteristiek voor het element van het atoom dat verantwoordelijk is voor het proces. Dit betekent dat het effect als methode gebruikt kan worden voor het bepalen van de elementaire samenstelling van het beschoten materiaal. Deze analytische methode heeft Röntgenfluorescentiespectrometrie.Meestal wordt een röntgenbuis gebruikt als bron van de oorspronkelijke straling, maar het wordt steeds populairder daarvoor synchrotronstraling te gebruiken. Het is ook mogelijk de excitatie stap door beschieting met een bundel energieke elektronen uit te voeren. Dit is in de strikte zin van het woord geen fluorescentie maar de ontstane straling geeft wel vergelijkbare informatie.Het effect kan echter ook een lastig bijverschijnsel zijn. Bijvoorbeeld bij poederdiffractie is men geïnteresseerd in de strooiing van fotonen die geen energie verloren hebben omdat de strooiing elastisch is. Fluorescentie kan in zo'n geval de meting nadelig beïnvloeden doordat het de detector overstroomt met fotonen. Vooral als er een element in het onderzochte materiaal aanwezig is dat slechts een paar plaatsen lager in het periodiek systeem staat dan het gebruikte anode materiaal van de stralingsbron kan dit een probleem zijn. Bij het gebruik van koper Kα straling zijn dat elementen nikkel kobalt en ijzer.
dbpedia-owl:thumbnail
dbpedia-owl:wikiPageExternalLink
dbpedia-owl:wikiPageID
  • 79850 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageLength
  • 82216 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageOutDegree
  • 301 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageRevisionID
  • 110782997 (xsd:integer)
dbpedia-owl:wikiPageWikiLink
prop-fr:année
  • 1952 (xsd:integer)
  • 1976 (xsd:integer)
  • 1997 (xsd:integer)
  • 1999 (xsd:integer)
  • 2002 (xsd:integer)
  • 2006 (xsd:integer)
prop-fr:auteur
  • J.-P. Eberhart
  • Jacques Despujols
  • Ron Jenkins
prop-fr:auteurs
  • Beckhoff, B., Kanngießer, B., Langhoff, N., Wedell, R., Wolff, H.
prop-fr:commons
  • X-ray fluorescence
prop-fr:isbn
  • 3 (xsd:integer)
  • 978 (xsd:integer)
prop-fr:langue
  • fr
prop-fr:lien
  • http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/21/25/93/PDF/ajp-jphysap_1952_13_S2_A31_0.pdf
prop-fr:lieu
  • New York
  • Paris
prop-fr:mois
  • février
prop-fr:nom
  • Ravel
  • Elam
  • Sieber
prop-fr:pages
  • 31 (xsd:integer)
  • 121 (xsd:integer)
prop-fr:prénom
  • J. R.
  • B. D.
  • W. T.
prop-fr:périodique
  • Radiation Physics and Chemistry
  • Le Journal de physique et le radium. Physique appliquée
prop-fr:titre
  • A new atomic database for X-ray spectroscopic calculations
  • Fluorescence spectrometry 2nd ed.
  • Handbook of Practical X-Ray Fluorescence Analysis
  • Application de la spectrométrie des rayons X au dosage des faibles teneurs de métaux dans les minerais
  • Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides
  • Analyse structurale et chimique des matériaux éd.
prop-fr:volume
  • 13 (xsd:integer)
  • 63 (xsd:integer)
prop-fr:wikiPageUsesTemplate
prop-fr:wikibooks
  • Spectrométrie de fluorescence X
prop-fr:éditeur
  • Dunod
  • Springer
  • Wiley-Interscience
  • Doin
dcterms:subject
rdfs:comment
  • La spectrométrie de fluorescence X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une méthode d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X.Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon, en analysant ce spectre, on peut en déduire la composition élémentaire, c'est-à-dire les concentrations massiques en éléments.L'analyse du spectre peut se faire de deux manières : par analyse dispersive en longueur d'onde (WD-XRF, wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry) ; par analyse dispersive en énergie (ED-XRF, energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry).
  • 蛍光X線(けいこうXせん)とは、元素に特有の一定以上のエネルギーをもつX線を照射することによって、その物質を構成する原子の内殻の電子が励起されて生じた空孔に、外殻の電子が遷移する際に放出されるX線である。その波長は内殻と外殻のエネルギー差に対応する。内殻・外殻のエネルギー差は元素ごとに固有であるので、蛍光X線のエネルギーも元素に固有である。このことから、蛍光X線のエネルギーを実験的に求めることにより、測定試料を構成する元素の分析を行うことができる。あるいはその強度を測定することにより測定試料中の目的元素の濃度を求めることができる。このような元素分析の手法を蛍光X線元素分析法 (X-ray Fluorescence Analysis, XRF) と呼ぶ。対象となる元素は実用的にはNa (Z = 11) 以上の原子番号を持つ元素である。元素分析法としての特徴は、分析によって試料が破壊されることがない(非破壊分析)、分析は一般には比較的短時間に済む、適当な測定法を用いれば多元素同時分析も可能である、などである。一方放射光を照射光源に用いた放射光蛍光X線分析法では、微量元素分析(ppm以下)、微小領域分析(μm以下)も可能になっている。市販装置は蛍光X線のエネルギー分析の方法の観点から、エネルギー分散型分析装置 (Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer) と波長分散型分析装置 (Wavelength Dispersive X-ray Flourescence Spectrometer) に大別される。前者は検出器自体がX線のエネルギー分析機能を持つ半導体検出器を利用し、後者はブラッグの法則を利用した結晶分光器を用いてエネルギー分析を行う。前者は微小/微量試料の分析に向いておりまた複数元素の同時測定などに特徴あるが、エネルギー分解能は低いので多元素試料では定量性に欠ける場合もある。一方、後者はエネルギー分解能が高いので特定元素の定量性には優れており応用が広いが、感度は前者に比べて低い。蛍光X線分析法は、鉱物や金属、生物学試料の組成分析に広く用いられ、製造現場での品質管理や材料科学における原材料分析、医療分野での標本試料分析など、元素分析の分野で広範に利用されている。蛍光X線分析で特定の元素の内殻電子を励起するためには特定のエネルギー(吸収端エネルギー)以上のエネルギーを持ったX線を照射する必要がある。X線源には最も一般的にはX線管球(一種の真空管)からのX線、また特殊な場合には放射性同位元素 (RI) からのX線が使用され、また近年は、放射光を励起源とした蛍光X線分析も行われている。なお蛍光X線法と類似の元素分析方法として、電子線や陽子・荷電粒子を内殻電子の励起源として用いる方法もある。これらは内殻励起の機構が異なり、得られるスペクトルにもその特徴が現れることからそれぞれ使い分けられている。電子線を用いた分析装置は電子プローブX線マイクロアナライザー (EPMA) などがあり、陽子・荷電粒子を励起源とした分析法は粒子線(陽子)励起X線発光法 (PIXE) と呼ばれる。
  • La fluorescencia de rayos X (XRF, sigla en inglés) consiste en emisión de rayos X secundarios (o fluorescentes) característicos de un material que ha sido excitado al ser «bombardeado» con rayos X de alta energía o rayos gama. Este fenómeno es muy utilizado para análisis elemental y análisis químico, particularmente en la investigación de metales, vidrios, cerámicos y materiales de construcción, así como en la de geoquímica, ciencia forense y arqueología.
  • Röntgenfluoreszenz ist die Emission von charakteristischen sekundären (oder fluoreszierenden) Röntgenstrahlen von einem Material, das mit hochenergetischer Strahlung angeregt wurde. Das Phänomen wird in der Röntgenfluoreszenzanalyse für die Bestimmung der elementaren Zusammensetzung von Metallen, Gläsern, Keramiken und anderer Materialien genutzt.
  • X-ray fluorescence (XRF) is the emission of characteristic "secondary" (or fluorescent) X-rays from a material that has been excited by bombarding with high-energy X-rays or gamma rays. The phenomenon is widely used for elemental analysis and chemical analysis, particularly in the investigation of metals, glass, ceramics and building materials, and for research in geochemistry, forensic science and archaeology.
  • Rentgenová fluorescence (zkratka XRF z anglického X-ray fluorescence) je spektroskopická metoda analytické chemie patřící mezi metody elektromagnetické spektroskopie. Využívá se ve forenzní chemii.
  • Рентгенофлуоресцентный анализ (РФА) — один из современных спектроскопических методов исследования вещества с целью получения его элементного состава, то есть его элементного анализа. С помощью него могут анализироваться различные элементы от бериллия (Be) до урана (U). Метод РФА основан на сборе и последующем анализе спектра, полученного путём воздействия на исследуемый материал рентгеновским излучением.
  • Onder Röntgenfluorescentie verstaat men een proces van fluorescentie waarbij een materiaal bij bestraling met röntgenstraling ook weer röntgenstraling uitzendt.Het uitgezonden foton heeft een langere golflengte. Het verschil in golflengte vertegenwoordigt een verschil in energie dat in de regel als warmte verloren gaat. De uitgezonden golflengte is karakteristiek voor het element van het atoom dat verantwoordelijk is voor het proces.
rdfs:label
  • Spectrométrie de fluorescence X
  • Рентгенофлуоресцентный анализ
  • Fluorescencia de rayos X
  • Fluorescenza X
  • Rentgenová fluorescence
  • Röntgenfluorescentie
  • Röntgenfluoreszenz
  • X-ray fluorescence
  • 蛍光X線
owl:sameAs
http://www.w3.org/ns/prov#wasDerivedFrom
foaf:depiction
foaf:isPrimaryTopicOf
is dbpedia-owl:wikiPageDisambiguates of
is dbpedia-owl:wikiPageRedirects of
is dbpedia-owl:wikiPageWikiLink of
is foaf:primaryTopic of