About: Atomic force microscopy     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

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  • Сканирующий атомно-силовой микроскоп (ru)
  • Atomic force microscopy (en)
  • Microscope à force atomique (fr)
  • Microscopi de forces atòmiques (ca)
  • Microscopio de fuerza atómica (es)
  • Rasterkraftmikroskop (als)
  • 原子間力顕微鏡 (ja)
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  • Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Ce mode d'observation permet alors, de réaliser la cartographie locale des grandeurs physiques caractéristiques de l'objet sondé (force, capacité, intensité de rayonnement, courant...), mais également de travailler dans des environnements particuliers tels que les milieux sous vide, liquides ou ambiants. (fr)
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